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通标标准技术服务有限公司深圳分公司 
| 联系人：徐亚楠 女士 (客户经理) |
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| 电 话：0755-25328679 |
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| 手 机：18318822053 |
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| 供应深圳SGS微区形貌及表面成分分析 |
表面形貌及微区成分分析
利用扫描电子显微镜（SEM）+X射线能谱仪（EDS）可对各种固体表面进行形貌观察，*大放大倍数可达30万倍，同时利用特征X射线可对微区的成分进行定性半定量分析。在金属、半导体、陶瓷、催化剂、矿物、玻璃、PCB板等相关表面形貌及微区成分分析方面得到广泛应用。同时在零件断口分析、表面异物分析等产品失效方面也发挥了关键性的作用。
SEM+EDS 特点
u SEM的二次电子成像分辨率约3nm
u EDS成分分析的元素范围Be（5）～U（92）
u EDS分析深度约1μm
u 元素检测下限约1%
u 空间分辨率约1μm
测试项目：? 固体材料表面的形貌观察
? 金属零部件断口形貌观察
? 粉末、微粒样品形态和粒度的测定
? 镀层厚度测量
? 固体材料表面、截面及微区成分
? 表面异物，锈蚀，斑点分析
? 样品成分的线分布和面分布
? 锡须观察和测量
适用产品和领域:
金属、陶瓷、催化剂、矿物、玻璃、PCB板；渗氮、渗碳件，喷涂件， 薄膜件；金相切片样，表面异物，金属断口；粉末材料，生物医学材料等 |
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